基本情報

元論文情報

タイトル: Sparse Modeling Of An Extended X-Ray Absorption Fine-Structure Spectrum Based On A Single-Scattering Formalism
著者: Akai, Ichiro; Iwamitsu, Kazunori; Igarashi, Yasuhiko; Okada, Masato; Setoyama, Hiroyuki; Okajima, Toshihiro; Hirai, Yasuharu
ソースタイトル(雑誌名): Journal Of The Physical Society Of Japan
発行年: 2018
DOI: 10.7566/JPSJ.87.074003
被引用数(第１世代): 5
被引用論文被引用数(第２世代): 15

元プレスリリース情報

タイトル: 世界初、測定データだけで物質のミクロ構造と構造ゆらぎを推定～電池、電子デバイスなどの材料研究に新解析法～
日付: 2018年06月22日
URL: https://www.jst.go.jp/pr/announce/20180622/index.html

データ取得日

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Retrieved: 2021年09月24日

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